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Labelexpo:IGT推出UV固化柔性版印刷適性測(cè)試儀(2007-11-20) |
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據(jù)悉 2007年11月~29日在上海新國(guó)際博覽中心召開的2007國(guó)際標(biāo)簽印刷展覽會(huì)（Labelexpo Asia）上，IGT Testing Systems公司將在本次國(guó)際標(biāo)簽印刷展覽會(huì)上推出新型的F1-UV柔性版印刷適性測(cè)試儀。
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